探讨随机耦合格码模型与表面码在电路级噪声下的表现
整理内容
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资讯概述
揭示量子计算中电路级噪声对随机耦合格码模型和表面码的影响机制
关键事实
为什么值得关注
揭示量子计算中电路级噪声对随机耦合格码模型和表面码的影响机制
可能影响哪些方向
影响量子计算技术的稳定性和可靠性评估
后续跟踪点
进一步研究电路级噪声对量子计算性能的影响
原文出处
- 原始标题
- The random coupled-plaquette gauge model and the surface code under circuit-level noise
- 发布媒体
- Nature Quantum Information
- 发布日期
- 2026/08/05 00:00
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